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CISC半導體攜最新產品亮相2016深圳物聯(lián)網展
文章出處:admin 發(fā)表時間:2016-08-29 14:44
奧地利CISC半導體參加了為期三天的2016深圳物聯(lián)網展,在展會上,展出了最新的符合RAIN RFID標準的Xplorer UHF RFID讀寫器測試儀及標簽仿真器,不論在讀寫器性能層面還是在協(xié)議物理層面都能給出中肯而準確的測試結果,獲得了廣大客戶的好評。
![CISC半導體攜最新產品亮相2016深圳物聯(lián)網展(圖1) CISC半導體攜最新產品亮相2016深圳物聯(lián)網展并獲眾多好評](/uploads/allimg/160829/1444354622-0.jpg)
同時,在展會現(xiàn)場還展出了高精度、便攜可靠的UHF標簽性能、規(guī)范性測試系統(tǒng),其中方向性測試的演示也引起來往觀眾紛紛的關注。此次除了展出UHF的產品還展出了NFC相關的測試設備,其中覆蓋了NFC標簽性能、規(guī)范性及NFC設備互操作性測試等的實物及視頻演示。
![CISC半導體攜最新產品亮相2016深圳物聯(lián)網展(圖2) CISC半導體攜最新產品亮相2016深圳物聯(lián)網展并獲眾多好評](/uploads/allimg/160829/14443563M-1.jpg)
在19日RFID應用創(chuàng)新大會上,CISC針對如何通過正確的測試保證RFID/NFC標簽及讀寫器的品質進行了深入的演講,帶給現(xiàn)場客戶更廣闊的測試思路和更先進的測量方法,獲得現(xiàn)場觀眾的整整掌聲。
![CISC半導體攜最新產品亮相2016深圳物聯(lián)網展(圖3) CISC半導體攜最新產品亮相2016深圳物聯(lián)網展并獲眾多好評](/uploads/allimg/160829/1444353J1-2.jpg)